光學特性（xìng）參數測量儀（yí）器，如光譜儀、輻射計/光（guāng）度（dù）計、激光功率計、激光能量計（jì）、脈衝寬度探測器、光束質量分析儀/光束輪廓儀、高速偏振光相機等

博源光電-緊湊型（xíng）光譜儀及光功（gōng）率計

博源光電提（tí）供波長從180nm到1700nm的緊湊型（xíng）光譜儀，以及光電二極管/熱電（diàn）堆型光功率計。

EOC-相幹-脈衝（chōng）寬度測量用光電探測器

EOC的光電探測（cè）器在世界各地的（de）實驗（yàn）室中用於脈衝寬（kuān）度測量（liàng）和脈衝輪（lún）廓應用，如監測脈衝激光器、鎖（suǒ）模激光器和外部（bù）調（diào）製連續激光器的輸出

Photonic Lattice -偏振光學元件和偏振高速相機

我們不限於提供偏振光學元件，我們也（yě）提供基於偏振元件的獨特的產品，如我們專有（yǒu）的雙折射測量係統、偏振高速相機、超（chāo）高速和高靈敏度熱成像相機以及二氧化碳成（chéng）像（xiàng）係統。

Dataray- 光（guāng）斑輪廓儀

DataRay是（shì）符合ISO標準的（de）激光束輪廓儀的領先製造商

International Light-光度計、輻（fú）射計、光譜光度計、光譜輻照度計

我（wǒ）們提供一係列光測量產品和設備，包括光（guāng）度計、輻射計、光譜光度計和光譜輻射計，適用於紫外線、可見光和紅外測量。

HAAS-高功率激光束（shù）分析儀

HAAS激光束分析（xī）儀係統是模塊（kuài）化設計。該係統包括軟（ruǎn）件、相機、光束（shù）減少光學器件、衰減模塊和濾波器，能夠（gòu）實現從低功率到（dào）高功率（lǜ）連續波和脈（mài）衝激光器的“實時”激光束診斷。

ALPHALAS GmbH – 超快光電探測器

ALPHALAS GmbH是一家德國激光製造商。作為一家高科技激光公司，我們在激光、光學和激光相（xiàng）關電子領域提供（gòng）廣泛的產品。

博源光電成立於2012年，位於中國杭州。

是一家專業生產科學教育儀器和光子學儀器的公司。我們生產各種（zhǒng）物理、光電專業的（de）實驗教學培訓套件, 以及以光譜、光強度分析為基礎的測量儀器及解決方案，為客戶帶來高質量、實惠和可靠的產品。

博源光電的光分析產品，包含光譜儀係列和光功率係列：

光譜儀產品係列：

描（miáo）述	參考圖片	產品係列	波長（nm）	光學分辨率 FWHM（nm）	備註說明
VIS-NIR 小型光譜（pǔ）儀		BIM-6001A	315~1100	1~0.35
		BIM-6002A	180~1100
VIS-NIR 高分辨率光譜儀		BIM-6601A	315~1100	0.35~0.08
		BIM-6602A	180~1100	0.35~0.1
		BIM-6606	200~1100	0.35~0.06
UV-NIR 高靈敏（mǐn）度光譜儀		BIM-6703	200~1100	1~0.35	在 500-900nm區間具備高靈敏度，適合拉曼應用
		BIM-6704			在 200-500nm區間具備高（gāo）靈敏度，適合UV波段（duàn）
UV-NIR 高靈敏度高分辨率光譜儀		BIM-6603	200~1100	1~0.1	在（zài） 500-900nm區（qū）間具（jù）備高靈敏度，適（shì）合拉曼應用
NIR 光譜（pǔ）儀		BIM-6805	950-1700	~10nm
		BIM-6809	920-1700	~5nm

光功率計產品（pǐn）係列（liè）：

Photonic Lattice於2002年在日本仙台創立。其核心技（jì）術是光子晶體技術，利用濺射技術將不同軸向的微偏（piān）振器陣列自由圖案化並堆疊在單個晶片上。這項技術被用作光通信（xìn）（偏（piān）振複用（yòng））、半（bàn）導體（使用DUV光進行檢查）、精（jīng）密處理（lǐ）（光束整（zhěng）形）和其他各領域（yù）設備的（de）核心部件。

如今，通過（guò）特殊光學和計（jì）算算法等（děng）應用技術的研發（fā），Photonic Lattice已（yǐ）經實現了專有的雙折射測（cè）量係統、偏振（zhèn）高速相機、超（chāo）高速高靈敏（mǐn）度熱成像相機、二氧化碳成像係統等（děng）獨特的產品，使我們能夠對以前很難呈現的現象進行可視化和測量。

產品：

我們使用我們獨特的光學技術提供光學元件、光學模塊、檢測設備、定製開發和（hé）合同測試服務（wù）。

• ● 光子晶體偏振光（guāng）學元件
• ● 2D雙折射測量係統
• ● 在線/離線映（yìng）射型雙折射測量係統
• ● 高速紅外（wài）攝像機/紅外測量設備
• ● 高速偏振（zhèn）相機
• ● 偏振成像（xiàng）相機
• ● 厚（hòu）度和折射率測量(橢圓測量法)

2D雙折射測量係（xì）統

PA/WPA係列係統提供透明材料的高速雙折射（shè）測量，例如（rú）用於殘餘應力評估的透明部（bù）件，或用於（yú）相位均勻性評估的（de）透明膜。從微觀到宏觀（～50cm），視野（yě）適用於任何測（cè）量情況，可按材（cái）料（liào）尺寸選配不（bú）同的產品。

• ● PA係列以500萬（wàn）像素的高分（fèn）辨率高速測量雙折射和相位（wèi）差，測量範圍為0至130nm的低相位差。適（shì）用於玻（bō）璃器皿和（hé）其他低相位差目標的測量。
• ● WPA係列通過測（cè）量三波（bō）長的雙折射/相位差分佈，將相位差的測量範圍從0擴展到3500nm。適用於測量大型透明樹（shù）脂產品。

PA/WPA-NIR 係列

該係（xì）統（tǒng）在850nm波長下工作，為在可見光波長下不透明的工件的工藝和質量控製提供（gòng）了強大的工（gōng）具，如激（jī）光雷達和人臉識別（bié）係統中使用的特殊樹脂和硫族(元素)化物。

在線/離線映射型雙折射測量係統

使用KAMAKIRI對整個（gè）薄膜表麵進行檢查。因此，即使突然發生光（guāng）學不規則，也可以實時生成警（jǐng）報，以防止任何缺陷區域流出。

從“可視化”到“自（zì）動檢測”防止不良產品流出和快速檢（jiǎn）測缺陷

• ● 隨著顯示器在分辨率和對（duì）比度方麵（miàn）變得更高，並且隨著製造商提高（gāo）圖像質量，正在追求薄膜平麵內的高度相移（yí）和主軸取向均勻性。
• ● 此外，從環境角度來看，指定要處理的生產批（pī）次和薄膜修剪區域變（biàn）得很重要。
• ● 通過使用KAMAKIRI，它結合了一個獨特的偏振高速相機和掃描係統，現在可（kě）以在極短的時間內（nà），在生產線和研究（jiū）實驗室中，高精度地檢查和記錄薄（báo）膜平麵中（zhōng）的雙折射。

大量安裝成果

• ● 自2014年底推出以來，日本、韓國和中國的光學薄膜製造商和玻璃/透鏡成型製（zhì）造商已經安裝了50多個KAMAKIRI係列產品。
• ● 特別是對（duì）於光學薄膜製造商來說，有許（xǔ）多不同類型的生產線，每條生產線都有不同的要求。
• ● 我們製造並安裝了寬度為200mm的小型係統和（hé）寬度超過5m的大型係統（tǒng）。
• ● 通過確認客戶生產線的狀（zhuàng）態，我們可以提出符合的係統配置。

高速紅外攝像機（jī）/紅（hóng）外測量設備

我們提出了一種（zhǒng）基於世（shì）界上（shàng）高級別（bié）的高（gāo）速高靈敏度（dù）紅外相機技術的紅外研發測量係統。它適用於各種新的應用，如（rú）高速溫度測量（liàng）、CO2氣體（tǐ）可視化或焊接溫度分析。

瞬（shùn）時溫度變（biàn）化（huà）的可視化

• ● 使用我們的冷卻紅（hóng）外高（gāo）速相（xiàng）機，通過將圖像傳感器冷卻至-190°C，將熱噪聲降低到最大限度（dù），實（shí）現了過去難以實現（xiàn）的高精度、高速熱成像測量。
• ● 這使得可以精確地測量高速現象，例如拉伸（shēn）試驗中斷裂瞬間的溫（wēn）度上升（shēng）、激光加工過程中工件的溫度上升或高速移動物體（tǐ）的（de）溫度（dù）測量。此外，通過以高精（jīng）度檢測極小的溫度變化，可以評（píng）估（gū）例如半導體芯片在操作期間的（de）溫度上升或在溫度上升期間液體中的溫（wēn）度不規則性。

CO2氣體可視化（huà）

• ● 通過（guò）可視化不可見的（de）氣體，如CO2、甲烷、乙烷、乙醇、甲（jiǎ）苯等，可以檢測（cè）和（hé）量化管道、呼氣流（liú）的洩漏，或者使用CO2表徵裸氣流；氣體作為一（yī）種廉價的示蹤劑。
• ● 當可視化CO2時，一個特別關注的問題是它通常很難與水蒸氣區分開來。
• ● 另一方麵，CO2相機（jī）可以通過對特定波長（zhǎng）的紅外吸收進行（háng）光譜過濾來區分氣體。
• ● 在4.3微米（mǐ）波段（duàn），二（èr）氧化碳比水蒸氣吸收能力強（qiáng）得多，因（yīn）此可以（yǐ）克服這一問（wèn）題。

高速偏振相機

CRYSTA是世界上速度最快的高速偏振（zhèn）相機，可以實時顯示透明材料的內部應力和取向結構。它（tā）在（zài）生物技術、國防或航空航天技（jì）術等各個研發領域都（dōu）有（yǒu）很大幫助。

• ● 材料加工（gōng）過程中內部應（yīng）力分佈的可視化和加工條件（jiàn）的（de）分析
• ● 衝擊試驗/斷裂中裂紋周圍應力傳播的評估
• ● 液晶/晶體材（cái）料晶軸和取向狀態的動態觀測
• ● 粘彈性和軟物質產生的流動應力分佈可視化

偏振態可以測量（liàng）和可視（shì）化各種物（wù）理量和物理性質。

• ● 偏振是（shì）“沿規則方向振動的（de）光”，人眼無法識別。由於偏振（zhèn）狀（zhuàng）態隨透射物體的內部結構和反射物（wù）體的表麵形狀而變化，因此人（rén）們認識到，通過測量入射光（guāng）和透射光（guāng）的偏振（zhèn）狀態，可以應用於各種物理量的（de）測量和現象的可視化。
• ● 此外，“偏振”和“高速（sù）成像”技術的結合（hé）將實現（xiàn）以前（qián）難以想象的新圖像分析，例如從圖像中檢查透明材料加工過（guò）程（chéng）中施加（jiā）在工具上（shàng）的載荷，可視化衝擊試（shì）驗和流動現象中的應力傳播和弛豫過程，以及以非接觸方（fāng）式定量測量取向膜的空間性能均勻（yún）性。

偏振成像相機

PI/WPI相機能（néng）夠作為正常圖像一樣實時獲得（dé）偏振信息，並具有高分辨率。它們被用於許多領（lǐng）域，包（bāo）括使用偏振（zhèn）特（tè）徵識別暗物體、激光束的實時偏振監測等。

除了記錄線偏振度（DOLP）和主軸方位角的PI功能外，WPI還提供了斯托克（kè）斯（sī）參數和偏振度（dù）（DOP）的全（quán）麵記錄，這在部分偏振情況下是（shì）必要的。

通過偏振效應觀察表麵凸起

偏振允許檢測使用普通相機難以看到的小邊緣和表麵不規（guī）則性。偏振成（chéng）像在觀察黑暗物體時尤其閃耀。

普通圖像		偏振圖像 在偏振圖像上可以清楚地看到表麵凸起。

新材料評估（比如碳纖（xiān）維…）

使用反射光，偏振可（kě）以用於實時觀察和量化CFRP（碳纖維增強聚合物）樣品中纖維的取向。

新材（cái）料（liào）評估

WPI全偏振成像

市場上的偏振相機，包括PI，隻提供有限的偏振信息，而（ér）不是整個畫麵。

與這種相機相比，WPI係統可（kě）以訪問完整的斯（sī）托克斯（sī）參數，允許在右旋、左旋、橢圓和圓偏振態之間進行辨別。此（cǐ）外，WPI係統區分偏振光（guāng）和非偏振光，並且不會將橢圓偏振與非偏振光（guāng）混合。WPI係統是全偏振測量的最佳選擇。

藍色部（bù）分為右旋圓偏振（RCP），紅色部分為左旋圓偏（piān）振（LCP）

厚度和折（shé）射率測量(橢圓（yuán）測量法)

這些係統測（cè）量超（chāo）薄膜的厚度和折（shé）射（shè）率。它們實（shí）現了（le）對完整二維分佈的高速測量，可縮放到微尺度區（qū）域。它們主要用於半導體晶片和顯（xiǎn）示麵板的評估。

現在可以以高分辨率對薄膜厚度和折射（shè）率進行（háng）高速（sù）、無損、高精度的測（cè）量。

我們（men）支持質量管理和過程控製，提供豐富的數（shù）據量和可適應（yīng）您需（xū）求的軟件功能。

高速

全麵積晶圓（高達12英寸）的高速評估（gū）。

使（shǐ）用（yòng）豐富的數據量，您可以為故障（zhàng）排除過程提供反饋，並將質量控製提升到一個新的水平。

• ● 厚度測量從“點”升級為全麵的“表麵”評估
• ● 全表麵評估為過程評估提供了很好（hǎo）的見解

高分辨率（lǜ）【ME-210（-T）】

ME-210（-T）除了（le）具有高達12英寸的晶片的大表麵測量能力外，還提供（gòng）了高分辨率模式，可以放大到幾（jǐ）微米小（xiǎo）的區域。

測量區域尺寸（cùn）：最大12 inches（標準：8 inches）

光斑大小：

•         標準模式：0.55mm
•         中間模式：55μm
•         高分辨率模式：5.5μm

可提供透明基板的薄膜測（cè）量

使用ME-210-T，我們可以對通常難以使用標準橢圓偏振技術進行評估的物體進行評估，例（lì）如（rú）OLED的（de）有機薄膜等。

簡潔緊湊【SE-101】

使用ME-210-T，我們可以對通常難以使用標準橢圓偏（piān）振技術進行評估的物體進行評估，例如OLED的有機薄膜等。

DataRay成（chéng）立於1988年，美國加利福尼亞州。

DataRay是符合ISO標準的激（jī）光光束輪廓儀的製造商。我們提供各種激（jī）光束輪廓解決方案，為光子學行業帶來（lái）高（gāo）質量、經（jīng）濟實惠和可靠的（de）產品。我們的解決（jué）方案包括激（jī）光光束輪廓相機、掃描狹縫光束輪廓儀、M²測量係統和專用光束輪廓儀係統（tǒng）。我們為各（gè）種應用和波長提供解決方案。我們的光束輪（lún）廓係統在美國（guó）設計和製造，並提供3年保修（xiū）。

DataRay率先推出：

• ● 適用於Windows的光束分析軟件
• ● 兼容Windows 95的CCD光（guāng）束輪（lún）廓相機
• ● CCD電子快門的軟件控製
• ● 具有Micron功能的線性掃描雙模狹縫/刀刃光束輪廓儀，完全符合ISO 11146光束（shù）輪廓儀標準
• ● 用於聚焦光束、準直和M²測量的緊湊型（xíng）多平麵掃描頭
• ● 14位ADC數（shù）字百（bǎi）萬像素CCD光（guāng）束（shù）輪（lún）廓相機
• ● USB 2.0端口供電的（de）光束輪廓相機
• ● Windows 7支持

DATARAY的優勢：

廣泛的應用 產品特點： ● 最佳分辨率0.1µm； ● 最小直徑0.5µm； ● 最大光斑尺寸25mm； ● 超高速USB 3.0

寬帶寬 DataRay的產品組合涵（hán）蓋從DUV到FIR的波長

用戶無隱藏成本（běn） 所有（yǒu）DataRay係統均提供3年保修；在此期間內的任何必要維修都是免費的，包括零件和人工（不包括客戶（hù）造成的損壞）

符（fú）合ISO 11146 的光束輪廓儀 我們使用的XY平麵（miàn）掃描狹縫運動（dòng）嚴格（gé）符合標準的要求（qiú），即在垂直於傳播軸的平麵上進行狹（xiá）縫或刀刃掃描

免費、友好的軟件 我們為您的產品提供多功能軟件和免費下載的更（gèng）新

全球化的本地支持 你總能在附（fù）近找到當地的專業經銷商。在中國，請（qǐng）聯繫一起草17c 蜜桃（yì）儀器各辦事（shì）處。

DataRay的（de）產品係列：

1. 光束輪廓相機

DataRay生產三個係列的（de）光束（shù）輪廓相機：WinCamD、BladeCam和TaperCamD相機。這些基於CMOS和VO微測輻射熱計的相機覆蓋了從190 nm到（dào）16μm的不同波長。

2. 掃描狹縫（féng）光束剖麵儀（Si、Ge和InGaAs探測器）

DataRay生（shēng）產兩種類型的掃描狹縫光束輪廓儀：獲得專利的BeamMap係列，提供實時M²、發散角、聚焦和（hé）對準管理，以及beam'R係列，提供價格合（hé）理、緊湊和精（jīng）確的光束輪廓。我們所有的掃描狹縫光束輪廓儀都配有Si、Ge和InGaAs探測器，覆蓋波長從190 nm到2500 nm。

3. 專用光束剖（pōu）麵儀係統（受客戶啟發）

除了光（guāng）束輪廓相機和掃描狹縫光束輪廓（kuò）儀，DataRay還提供專門的光束輪廓儀係（xì）統。這些係統（tǒng）為複（fú）雜的應用程序提供瞭（liǎo）解決方案。大光束輪廓係統適用於高達200mm圖像區域的光束，而線激光輪廓係統提供了高達200mm長度的線激（jī）光（guāng）的直接測量。

4. 附件

DataRay提供各種光束輪廓儀配件，涵蓋（gài）光束衰（shuāi）減、光學、平移臺、紫外線（xiàn）和（hé）紅外線轉換器等。

Haas Laser Technologies（Haaslti）是定製激光束傳（chuán）輸組件的創新者。由Gilbert Haas於1992年創立，公司的使命是為創新、可靠性和質量製（zhì）定行業（yè）標準。Haaslti在新澤西州法蘭德斯擁有35000多平方英尺的工廠，在全球範圍（wéi）內提供各種激（jī）光束傳送組件。我們的資源包括經驗豐富的工程（chéng）師、先進的（de）製造業和（hé）先進的機器車間。

遠（yuǎn）東和歐洲的經銷（xiāo）商已經（jīng）證明了Hass在全球範圍內提供和（hé）支持其（qí）產品的承諾。

Haas目前已有數千種產品在世界各地的克萊斯勒、通用汽車、福特、通用電氣、法（fǎ）國航空（kōng）和惠普等公（gōng）司安裝，並以每週7天、每天24小時連（lián）續（xù）運行。

主要產品（pǐn）包括：

● 激光束診斷 在每一種激光應（yīng）用中，激光束輪廓都為最有效地使用激光提供了有價（jià）值的信息。通過監測激（jī）光束的（de）空間輪廓、圓度、質心（xīn）、散光和M2值，您可以對激光（guāng）和（hé）整（zhěng）個光束（shù）傳輸光學係（xì）統的任（rèn）何問題發出早期警示。這些與提高質量、工（gōng）藝可靠性和減少廢料有關。 HAAS的激光束（shù）分析儀係統是模塊化設計。該係統包括軟件、相機、光束衰減光學係統、衰減模塊和濾波器，可實現從低功率（lǜ）到高功率CW和脈衝激光器的“實時”激光束（shù）診斷。該設計提供近場和遠場瞬時激光束測量、分析和監控，“無移動部件”。 BA-CAM和BWA-CAM軟件（jiàn）是根據ISO 11146和ISO 13694國（guó）際標準設計的。基於全（quán）圖（tú）像（xiàng）的二階矩技術、刀口（kǒu）和方程擬合（高斯、超高斯和超圓環）技術用於確定快速可靠的標準光束參數。 計算（suàn）結果可（kě）以以表（biǎo）格形式查看，也可以記錄（lù）以查看隨時間的變化。可視（shì）化窗口包括X軸和Y軸圖、激光束的3D視圖（tú）、直方圖和數據庫報告。

BA-CAM 光束分析儀（BA-CAM）提供對激光空間分佈、激光功率、光束直徑、光（guāng）束橢圓度、光束中心和光束質心的“實時”遠場觀察、測量、分析和監控（kòng）。BA-CAM還可（kě）以監測（cè）激光束的退化、穩定性、功率、對準（zhǔn）和調整。

BWA-CAM 束腰分析儀（BWA-CAM）提供“實時”近（jìn）場M2測量且無需移動部件。（BWA-CAM）提供對激光束（shù）和所有有源光（guāng）學元件的即時分析和監測。

BA-CAM + BWA-CAM 雙係統結合了光束分析儀（BA-CAM）和束腰分析儀（BWA-CAM），可提供激光束的“實時”近（jìn）場和遠場觀察、測量和分析。

BWA-MON BWA-MON是為大多數應（yīng）用和（hé）激光波長的光束分析儀（BA-CAM）和束腰分析儀（BWA-CAM）配置（zhì）的模塊化聚焦頭設計。該設計不包含“移動部件”，可對激光束及其光學元件進行即時測量和分析。

關（guān）於International Light

五（wǔ）十多年來，International Light一（yī）直在開發滿足（zú）廣泛需求（qiú）並解決各種挑戰的產品和解決方案。ILT將照明（míng）和光測量專業知識相（xiàng）結合，為客戶提供出色的產品和服務。

International Light Technologies( ILT) 是在Gilway與IL合（hé）併後成立的（de）。Gilway Technical Lamp和International Light在（zài）為客戶提供模範服務、準時交貨和技術專業知識方麵（miàn）享有悠久而（ér）自豪的聲譽。Gilway成立於1969年，為客戶提供全（quán）光譜光源的現成（chéng）和（hé）定製（zhì）解決方（fāng）案。自1965年以來（lái），International Light一直通過設計和製造各種光測（cè）量儀器，包括市場上準確的照度計，來（lái）解決光測量的（de）固有困難。

2022年2月，ILT被Ocean Insight收購。ILT的辦（bàn）公室、研發、經過認證的先進的測試（shì）和校準實驗室、倉庫及其大部分製造都位於馬薩諸塞州皮博迪，距離（lí）波士頓以北僅15英裏。

為什麼選擇International Light

為什麼您（nín）要（yào）與ILT合作來麵對您最近（jìn）的挑戰？我們所做的就是創新和解決問題。我們擁有半個多世紀的經（jīng）驗，與各種類型和規模的公司以及（jí）廣泛的行業合作，提供解決棘手（shǒu）障（zhàng）礙的產品和解決方案。ILT在（zài）電氣、光學、機械、質量和製造工程領域僱傭了一支技能高超的專家團隊。我們的（de）員工將（jiāng）與您合（hé）作，確（què）保您獲得適合您的解決方案，無論是現成的還是量身定製的。在（zài）當今動盪的環境中，大公司都在努力跟（gēn）上，許多（duō）進入者（zhě）來（lái）來往往，ILT繼續提供解決問題、按照高質量（liàng）標準設計和製造、能（néng）夠快速且（qiě）經濟高效地推向市場的產品和解（jiě）決（jué）方案。

我們提供的產品

我們提供一係列光測量產品（pǐn）和設備，包括光度計、輻射計、光譜光度計和光（guāng）譜輻射計，適用於紫外線、可見光和紅外測（cè）量。我們還（hái）提供配套（tào）配（pèi）件，包括探測器（qì）、濾波器、輸入光學器件、積（jī）分球和校準。我（wǒ）們設計我們的產品以（yǐ）承受從水下應用到直接暴露在高水平紫外線下（xià），再到持續（xù）使用所需的許多苛刻應用。

UVGI抗微生物/消毒紫外線測量儀：

用於測量低\中壓汞光源、UV-C LED和準分（fèn）子光（guāng）源（yuán）-240-310 nm

ILT960便攜式緊湊型光譜儀

我們對客戶的承諾（nuò）

在ILT，我（wǒ）們致（zhì）力於為（wéi）客戶提供高質量的產品、及時禮貌的客戶服務和技術支（zhī）持。我們（men）意識到，我（wǒ）們（men）製造的大部分產（chǎn）品最終都是為客戶提供解決方案的一部分。當您與（yǔ）ILT合作時，您可以相信我們會支持我（wǒ）們的產品，並解決任何問題。

我們對質（zhì）量的承（chéng）諾（nuò）

ILT致力於為（wéi）客戶（hù）提（tí）供高質量的產品和服務（wù）。我們的員工使用優良的工具來確保我們的所有產品的設計和製造都符合我們對耐用性、可靠性、功效和成本效益的嚴格要求。

為了確保這一承（chéng）諾（nuò）得到理解、實施和維護，我們的所有（yǒu）員工都熟悉我們（men）的（de）政策，並（bìng）通過培訓和訪問我們的質量（liàng）手冊瞭解他們在質量體係中的要求。我們是一家通過ISO9001:2015質量管理認證的組織，我們的所有產品都有保修支持。ILT還通過（guò）了ISO13485:2016認證。

ILT是ISO/IEC 17025:2017認證實驗室。該認證使我們（men）能夠（gòu）校準（zhǔn）ILT品牌和非ILT品牌（pái）的表和分光輻射計。請（qǐng）訪問（wèn）我們的（de）校準頁麵，查看我們的所有（yǒu）校（xiào）準（zhǔn）服（fú）務。

ALPHALAS GmbH – 超快光電探測器

ALPHALAS GmbH是一家德國激光（guāng）製造商（shāng）。作為一家高科技激光公司，我們在激光、光學和（hé）激光相關電子領域提供廣泛（fàn）的產品。

ALPHALAS的主要業務包括開發、生產和銷售激（jī）光器、激光係統、激光相關電子產品和部件。主要產品為先進的鎖模、連續和調Q二極（jí）管泵浦固體激光器。ALPHALAS專注於短脈衝（亞納（nà）秒、皮秒和飛秒）和（hé）微芯片設計，但我們提供幾乎所有常見類型的DPSS激光器，具（jù）有高效和緊湊的設計。

ALPHALAS還提（tí）供各種（zhǒng）光電器件（jiàn）和（hé）部件，用於測量各種激光（guāng）參數。我們（men）有大量的光（guāng）學和激（jī）光部件、偏振光學、激光和非線性（xìng）晶體以及奇異和非傳統部（bù）件，而且大部分都有現貨。

UPD係列超（chāo）快光電探測器最適合測量從DC到25GHz的（de）光波形。各種型號的上升時間最快（kuài）可至15ps，涵（hán）蓋170至2600nm的（de）光譜範圍。

備註：

• ① 漫反射窗口降低了定位精度要求，並以大約三（sān）到五倍的靈敏度降低（dī）為代價增加（jiā）了（le）損傷閾值。建議僅用（yòng）於高峰值功（gōng）率（lǜ）激光器。
• ② 該型號具有”-”輸出。默認情況下（xià），所有其他型號都（dōu）具有”+”輸出（chū），但如果需要，可以訂購（gòu）”-”輸出。
• ③ 帶TEC冷卻模塊，非標準外殼。
• ④ 具有增加的（de）BLUE/UV靈敏度的改（gǎi）性（xìng）材料。
• ⑤ 與可選（xuǎn）過濾器支（zhī）架不兼容。
• ⑥ 性能大大提（tí）高。